尋找切面之前，必須要校正好顯微鏡-錐光鏡裝置特點
信息分類：生命科學資訊 作者:YIYI發(fā)布
尋找切面之前，必須要校正好顯微鏡-錐光鏡裝置特點
1．錐光鏡裝置特點及注意事項
錐光裝置是在正交偏光鏡的基礎上，加上聚光鏡，并把聚光鏡升到最高位置，換用高倍
物鏡(40×以上)，推人勃氏鏡或去掉目鏡，這樣就構成錐光鏡的裝置。該裝置可以用來測定
礦物的軸性、光性符號及光軸角和切面方向。
使用該裝置是應該注意以下事項：
(1)在尋找切面之前，必須要校正好顯微鏡，不僅要校正好中、低倍物鏡中心，還必須校
正好高倍物鏡的中心以及校正好聚焦系統的中心。
(2)用在中低倍物鏡尋找切面，將找好的切面置于視域中心。(一般情況下盡可能選定
干涉色最低的切面)。
(3)調換高倍(大于40×)物鏡。換用高倍物鏡時必須格外小心。初學者切記要從鏡筒
外側看著物鏡，緩慢的下降鏡筒，使鏡筒盡量靠近薄片，但不要與薄片接觸。然后，從目鏡筒
中看著視域，利用微動螺旋緩慢的提升鏡筒，直至視域內物像清楚為止。
(4)加入聚光鏡。聚光鏡應在較低的位置上加入，然后再緩慢的升高，并使其達到較高
位置，但不能與薄片底部相碰。
(5)最后推進勃氏鏡，觀察干涉圖。推入勃氏鏡時動作要輕，以免移動薄片或上偏
光鏡。
(6)觀察完干涉圖，卸下高倍物鏡(一定要先提高鏡筒，再操作)。換上中低倍鏡，推出
勃氏鏡。
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