同類(lèi)巖性的樣品各種物性參量作聚類(lèi)分析
光學(xué)儀器
應(yīng)用物性來(lái)直接解決基礎(chǔ)地質(zhì)問(wèn)題是一個(gè)新的課題,難度較
大,能借鑒的資料不多。地質(zhì)問(wèn)題本身總是隨著研究的進(jìn)展而不
斷深化,即使是已知的條件也還滲有未知的因素,所以應(yīng)用物性
解決問(wèn)題比起直接找礦的問(wèn)題來(lái)要相對(duì)不確切得多,因?yàn)樗茈y
驗(yàn)證。本書(shū)所舉實(shí)例的推測(cè)結(jié)果并不意味著它一定全都正確,只
是希望通過(guò)實(shí)例來(lái)說(shuō)明一些解釋方法,并通過(guò)圖件使讀者能更直
觀地看到數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析方法的成果,特別是否到物性在地質(zhì)現(xiàn)象
中所具有的明顯規(guī)律性。
一般認(rèn)為同類(lèi)巖性的巖石物性基本上服從正態(tài)分布特性。但
是,實(shí)際上常遇到一些異常物性的樣品。這些樣品用肉眼觀察時(shí)
不一定能看出有什么顯著的區(qū)別,而實(shí)際上卻由于在形成過(guò)程中
受到了諸如蝕變、接觸變質(zhì)等地質(zhì)作用的影響,使物性產(chǎn)生了微
弱的變異。這可以用同類(lèi)巖性的樣品各種物性參量作聚類(lèi)分析,
找出變異的聚類(lèi),并從這些聚類(lèi)在平面圖上的分布規(guī)律來(lái)推斷引
起變異的可能原因。