雙折射是指樣品中某點(diǎn)到另一點(diǎn)的折射率的變化
雙折射是指樣品中某點(diǎn)到另一點(diǎn)的折射率的變化。取決于應(yīng)變的
光彈聚合物旋轉(zhuǎn)偏振光平面的能力,當(dāng)偏振光透過一薄膜時(shí),顯示出
一系列不同的顏色帶。雙折射是聚合物類型、結(jié)晶度、取向度的函數(shù)。
更復(fù)雜的討論將在第九章進(jìn)行.研究注射制件的殘余應(yīng)力和取向
當(dāng)取向引起制件中部分殘余或凍結(jié)應(yīng)力,那么取向度可通過把制
件浸入熱浴中時(shí)的釋放應(yīng)力來估算,扭曲演變與凍結(jié)于試樣中的應(yīng)力
成比例。當(dāng)測(cè)定取向方向的彈性模量并與橫向非取向方向的低模量對(duì)
比時(shí).取向?qū)ξ镄杂绊懯敲黠@的。測(cè)取向度的另一方法是非取向方向的
抗沖性下降。
我們目前有關(guān)聚合物形態(tài)的知識(shí)大多數(shù)來自用
光學(xué)顯微鏡、透射
電子顯微鏡(TEM)以及近年來的掃描透射電子顯微鏡((STEM)。傳
統(tǒng)光學(xué)顯微鏡目前分辨率約0.1μm (100nm)。近年來發(fā)展起來的近場(chǎng)
掃描光學(xué)顯微鏡的分辨率為12nm,商業(yè)電子顯微鏡給出分辨率
0.2nm, 1993年4月報(bào)道一種特殊的STEM具有分辨率1.36埃
(0. 136nm),相當(dāng)于20 000 OOOX數(shù)量級(jí)。掃描隧道顯微鏡和原子力學(xué)
顯微鏡據(jù)說分辨率范圍在0.01^-0.2nm
STEM需要在試樣表面涂上重金屬層。TEM需要厚度小于
100nm的染色薄切片.可通過切片機(jī)切片。重金屬染色的基礎(chǔ)是具有
選擇吸收可染色化合物,在無定形區(qū)或不飽和區(qū)(有雙鍵或叁鍵的地
方)。這些區(qū)域電子密度的增加使得電子顯微鏡中的圖像清晰。用于光
學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡的一些染色化合物是四氧化餓(用于兩相體
系)、磷酸(用于尼龍)、抓磺酸一胺(用于聚烯烴)。用強(qiáng)酸、強(qiáng)堿或
熱熔劑進(jìn)行擇優(yōu)浸腐蝕同樣用于研究表面結(jié)構(gòu).必須注意的是不要因
過強(qiáng)的化學(xué)反應(yīng)而改變了試樣,更先進(jìn)的離子或電子轟擊刻蝕已經(jīng)有
報(bào)道。