光片表面磨光質(zhì)量檢測校正光學儀器
信息分類：生命科學資訊 作者:YIYI發(fā)布
光片表面磨光質(zhì)量檢測校正光學儀器
第一耀光和雜散光及其校正
任何不需要而進入視野的光統(tǒng)稱耀光，主要由透鏡表面反射及透
鏡框散射而產(chǎn)生，耀光可分為第一耀光和第二耀光，第一耀光為
物鏡透鏡表面反射及鏡框散射后直接射入視野的光。對于一套校
正好的儀器，第一耀光為常量，只須測出它產(chǎn)生的光電流減去即
可。方法是物臺上不放光片而放一吸收所有入射光的黑絨套，
開燈后測定此時視野內(nèi)的光強，設所產(chǎn)生的光電地油浸中測定
時，使物鏡前端浸在盛油的黑暗中測定的第一耀光。
由于光片表面磨光質(zhì)量不良，有裂紋，測定暗礦物時測區(qū)距亮礦
物太近等，因而產(chǎn)生的一些射入倍增管的有害光為雜散光。雜散
光是測定區(qū)之個的光，但它射入了倍增管，因而引起誤差。
這種誤差不可能定量的計算消除，只能采用下述步驟使之盡量減
�。海ˋ)選擇最完美的測定區(qū)域；(B)測區(qū)距裂隙盡量遠些；
(C)測區(qū)盡量遠離鄰近的明亮礦物，可以靠近比被礦物更暗的礦物。
光片表面在機械磨光時常產(chǎn)生一層厚約1微米的薄膜，它由極細
晶體或非晶體質(zhì)組成。此膜對反射力的影響很復雜，可能使之太
高或太低。此膜金屬與合金最厚，金屬礦物次之，煤與透明礦物
最薄，為除去此膜，可采用電解拋光法或化學機械磨光法。
本文由出自上海光學儀器廠，轉(zhuǎn)載請注明
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