折射率分布測(cè)量方法是晶纖測(cè)量工具顯微鏡
信息分類：生命科學(xué)資訊 作者:YIYI發(fā)布
晶纖的光學(xué)特性主要取決于晶纖橫向及軸向的折射率分布·如
散射損耗是由于沿光纖軸向方向折射率的不均勻性引起的.
摻雜離子濃度及其分布將影響晶纖的折射率及其分布。
摻雜濃度測(cè)量去反映折射率分布情況，但是這種測(cè)量不能直接透徹地
了解影響折射率分布的原因。通過(guò)測(cè)量晶纖折射率的橫向空間分布，
對(duì)于改善晶纖生長(zhǎng)工藝和評(píng)價(jià)晶殲質(zhì)量是十分重要的，對(duì)了解晶纖
的耦合特性也是有用的。因此掌握和了解折射率分布測(cè)量方法是晶
纖測(cè)量的一個(gè)重要項(xiàng)目。
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