電子顯微專家更容易找到所研究的區(qū)域,并可發(fā)現(xiàn)任何色彩的差異,
或可能發(fā)現(xiàn)在表面以下的缺陷的原來位置或位移,
光學(xué)顯微鏡相當(dāng)有限
有倍率通常足以為這些區(qū)域精確定點(diǎn)。一但這些區(qū)域被確定,并為SEM定
了位,便可以用更高的倍率和X光分析來繼續(xù)進(jìn)行研究。
雖然所有的微量化學(xué)分析和多數(shù)的微結(jié)構(gòu)分析是用SEM進(jìn)行的,但并不
是所有的分析顯微術(shù)都是用電子光學(xué)的方法,材料的許多物理和形態(tài)的
性質(zhì)都可以用光學(xué)顯微鏡來研究。同各種圖像分析儀結(jié)合起來使用,
光學(xué)顯微鏡可對(duì)原材料和成品中的許多微量成份進(jìn)行有效的篩選和
鑒定。
材料的問題多數(shù)來源于三個(gè)方面:涂層(包括搪瓷、瓷彩、粉末層、
纖維強(qiáng)化塑料的膠層)耐火材料和磨料以及電子材料,在篩選原材料。
質(zhì)量管理和生產(chǎn)中故障檢查方面光學(xué)顯微鏡必不可少的。
在搪瓷生產(chǎn)中產(chǎn)品的疵點(diǎn)可能來自不良襯底(涂琺瑯的鐵)或每批配
料成份不均勻或燒窯加熱循環(huán)不規(guī)則。用光學(xué)顯微鏡來檢查一個(gè)通過疵
點(diǎn)區(qū)域的拋光橫截面便可發(fā)現(xiàn)搪瓷材料生產(chǎn)大多數(shù)常見疵點(diǎn)。