X射線光譜分析法
以上闡述了電子或X射線照射到物質(zhì)上時(shí),該物質(zhì)吸收
電子或X射線所具有的能量后,放出該元素固有的特征X射線。
此特征X射線不論該物質(zhì)是化合物還是單一物質(zhì)均與之
無(wú)關(guān).這是由于分析用的X射線與原子核的近層電子有關(guān).所
以很據(jù)物質(zhì)放出的X射線的波長(zhǎng)求出元素的種類,根據(jù)射線
的強(qiáng)度求出物質(zhì)的成分比.用這種方法對(duì)物質(zhì)成分進(jìn)行非破
壞性分析就是X射線光譜分析。
以X射線為激發(fā)源時(shí),將這種方法稱為X射線熒光分析,
但此種分析可將X射線照射的部位局限于很小的范圍,所以
可進(jìn)行微區(qū)域分析。但是,當(dāng)用X射線激發(fā)時(shí),入射的X射
線的波長(zhǎng),一定要比放射出來(lái)的X射線的波長(zhǎng)短.此外所產(chǎn)
生的X射線又被其他元素所吸收。由于產(chǎn)生這些復(fù)雜現(xiàn)象,
須采用各種修正措施,但能以約以1%的精度進(jìn)行測(cè)定。
與化學(xué)分析等方法相比,這種方法的優(yōu)點(diǎn)是時(shí)間短、精度高。