化學(xué)成分襯度
化學(xué)成分襯度是利用近邊x射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜獲得的.
典型情況是在指定的吸收邊附近采集若干不同x射線能量下的圖像,
圖像之間的差異可以用來(lái)探測(cè)表面的局域成鍵特征.
顯示來(lái)自深層海底錳結(jié)核的PEEMI圖像.當(dāng)調(diào)節(jié)光子能量時(shí),PEEM
圖像中的不同區(qū)域會(huì)由于不同的化學(xué)組成和材料中元素的氧化態(tài)不同
而在不同的能量時(shí)被“點(diǎn)亮”.不同區(qū)域采集到的吸收譜顯示明顯的差
異.這一研究也詮釋了光譜顯微的概念.