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電池制程檢測(cè)用的金相顯微鏡制造供應(yīng)廠商

信息分類：生命科學(xué)資訊　　　　作者:YIYI發(fā)布　

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電池制程檢測(cè)用的金相顯微鏡制造供應(yīng)廠商

金相顯微鏡之電池制程檢測(cè)以及檢測(cè)

金相顯微鏡電池制程檢測(cè)

太陽能硅晶電池在制作金屬正負(fù)電極中利用網(wǎng)版涂布的制作
方式，舊的網(wǎng)版涂布正負(fù)電極寬度太寬，正負(fù)電極兩個(gè)標(biāo)系
與芯片的標(biāo)志相同位置精確度容許有誤差。

硅晶電池正負(fù)電極的光電轉(zhuǎn)換形式，隨著科技的發(fā)展正負(fù)電極
涂布制作路程，將原來有的正負(fù)電極度變小，正負(fù)電極的面積
與原來網(wǎng)版涂布相同并且增加網(wǎng)版涂布的面積，讓更多的電流
通過。

改變網(wǎng)版涂布的面積后，網(wǎng)版涂布正負(fù)電極的誤差將是轉(zhuǎn)換
效率提升的關(guān)鍵，研究發(fā)現(xiàn)改變后的網(wǎng)版涂布誤差補(bǔ)正,探討
后研究發(fā)展分析軟件芯片標(biāo)系和正負(fù)電極標(biāo)系間的誤差，而且
發(fā)現(xiàn)兩標(biāo)系離開間誤差補(bǔ)正的方法，達(dá)到允許范圍內(nèi)網(wǎng)版涂布
正負(fù)電極標(biāo)系的誤差達(dá)到最小。
本文由出自上海光學(xué)儀器廠，轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明
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