相襯顯微技術(shù)在金相分析中的應(yīng)用簡介
信息分類：生命科學(xué)資訊 作者:YIYI發(fā)布
相襯顯微技術(shù)在金相分析中的應(yīng)用簡介
相襯顯微技術(shù)在金相分析中的應(yīng)用
由于相襯原理基于光波的干涉現(xiàn)象，因此只能鑒別
試樣表面一定范圍內(nèi)的高度差(50-1500埃)，
高于或低于上述高度差都很難獲得好的效果。
基于以上情況，試樣應(yīng)不浸濁或輕微腐蝕，試樣表面
不能留有磨痕，最好采用電解拋光。
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