電子束為電子顯微鏡觀察樣本的光源
信息分類：生命科學(xué)小百科 作者:YIYI發(fā)布
電子束為電子顯微鏡觀察樣本的光源
掃瞄式電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope , SEM)
利用陰陽(yáng)兩極之間電壓差來(lái)加速電子，并用電磁線圈聚焦和控
制電子束進(jìn)行方向，即電子束為電子顯微鏡觀察樣本的光源。當(dāng)電
子束撞擊樣本時(shí)產(chǎn)生反射電子(back-scattered electrons)及次生
電子 (secondary electrons)，利用兩者的明暗對(duì)比，以顯示樣本
萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)
本研究采用的萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)，其加壓范圍有 2 噸、10 噸、50 噸及 200 噸等四種自動(dòng)
壓力調(diào)整功能，
壓汞式孔隙分析儀(Mercury Intrusion Porosimetry , MIP)
利用油壓將汞貫入水泥漿體中，藉由貫入壓力與貫入量來(lái)估測(cè)
漿體中的孔徑分佈情形
X 光繞射分析儀(X-ray Diffraction , XRD)
利用高速電子槍射擊銅靶激發(fā)出 X 光，再以此 X 光對(duì)待測(cè)粉末
進(jìn)行繞射，依其不同角度所呈現(xiàn)的強(qiáng)度來(lái)進(jìn)行成份分析，
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