光學顯微鏡通常被使用來觀察樣品斑點的位置
信息分類：生命科學資訊 作者:YIYI發(fā)布
顯微光譜學 IR microscopy
對于物理尺寸在10至500 mm范圍的樣品，可以使用IR顯微光譜法來觀測樣品中物種之吸收光譜或者反射光譜。
IR顯微鏡通常是由兩具顯微鏡所構成的，
其中一具是一般的光學顯微鏡，
另一具則是具有反射光學部分的IR裝置，而能夠將IR光束的大小減少到與樣品的尺寸相近。
光學顯微鏡通常被使用來觀察，預備以IR光束研究之樣品顆粒或者樣品斑點的位置。
IR光源通常是一具傅立葉轉換光譜儀，而不是光柵型儀器。
偵檢器通常是比其他IR偵檢器類型更為靈敏的液態(tài)氮冷卻式碲化汞–碲化鎘光導電裝置。
在目前，它的一些用途包括有，針對聚合物污染、聚合物薄膜之缺失、與薄層式聚合物薄板之個別層面等各項，
進行辨識工作；針對纖維、涂料、進行辨識工作；對電子組件之污染物進行辨識工作等等
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