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AFM掃描電子顯微鏡測(cè)試片的制作很關(guān)鍵

信息分類(lèi)：生命科學(xué)資訊　　　　作者:YIYI發(fā)布　

掃描熱導(dǎo)顯微鏡的探針的設(shè)計(jì)有多種，包括偵測(cè)系統(tǒng)在AFM懸臂上的浧茼r形尖端、直徑約一微米的Pt/Rh(90:10)金屬線、

或是整合偵測(cè)系統(tǒng)在AFM的探針尖端上。由于掃描熱導(dǎo)顯微鏡的探針是種電能轉(zhuǎn)換器，

所以待測(cè)試片表面必須絕緣，以防止探針上的偵測(cè)器短路。此外，為了避免試片表面粗糙而影響解析度，

一般會(huì)將試片表面以機(jī)械研磨拋光，再清洗后，才作掃描熱導(dǎo)顯微量測(cè)。

各種掃描式探針顯微鏡的探針設(shè)計(jì)及偵測(cè)系統(tǒng)的發(fā)展，強(qiáng)烈影響其應(yīng)用范圍與可行性；

本文所說(shuō)明的三種衍生的掃描式探針顯微技術(shù)的關(guān)鍵就在于探針設(shè)計(jì)及材料的選擇，

偵測(cè)系統(tǒng)的在軟體及硬體上的整合，配合適當(dāng)?shù)睦碚撃Ｐ团c模擬計(jì)算，

甚至在欲測(cè)試片的制作及處理上都十分重要，且亟待更多的研發(fā)與改進(jìn)。

本文由出自上海光學(xué)儀器廠，轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明

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