標(biāo)本拋光置入電子顯微鏡中分析礦物組成的元素比例
信息分類：生命科學(xué)資訊 作者:YIYI發(fā)布
標(biāo)本拋光置入電子顯微鏡中分析礦物組成的化學(xué)元素比例
破壞性儀器分析
古玉的分析可利用電子顯微鏡觀察組成礦物的成分及晶體結(jié)構(gòu)。先把小塊古玉標(biāo)本拋光、
鍍碳后置入電子顯微鏡中，經(jīng)分析可以得到礦物組成的化學(xué)元素比例，透過元素配位數(shù)的計算得到礦物的化學(xué)組成，再據(jù)以得到玉石組成礦物。
另一常用的方法是X光粉末繞射分析法。把1公克左右的古玉磨成細粉，送上X光晶體繞射儀，就可以得到礦物晶體的繞射峰，
經(jīng)比對國際繞射資料中心的粉晶繞射圖譜資料庫，很容易鑒定古玉是否屬于角閃石族中的透閃石礦物。
以上兩種分析都會破壞古玉，雖然結(jié)果準(zhǔn)確，但不適用于價值連城的古玉鑒定。
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