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光學(xué)儀器常識(shí)-微米尺寸下的材料結(jié)構(gòu)的影像

信息分類：生命科學(xué)資訊　　　　作者:YIYI發(fā)布　

在 1992 年時(shí)由 P. Güthner 和 K. Dransfeld 等人使用原子力顯微鏡（scanning force microscope）

配合鎖相放大器來(lái)量測(cè)鐵電共聚物的鐵電區(qū)，藉由導(dǎo)電探針當(dāng)上電極，共聚物薄膜的下方為鋁下電極，

施加交流電壓于上下電極間，并偵測(cè)樣品表面的壓電響應(yīng)的局部振盪，先透過(guò)施加 DC

電壓改變其極化方向，再成功取得在共聚物薄膜中已極化區(qū)域的微米尺寸下的鐵電區(qū)的影像，

此一量測(cè)方式與本文所稱之壓電力顯微鏡量測(cè)方式已非常相近，

唯一不同之處乃在其利用一光學(xué)干涉儀偵測(cè)探針運(yùn)動(dòng)而非現(xiàn)今

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