顯微鏡觀察的好處
因從文,物的材質(zhì)特性、制作技術(shù)及保存環(huán)境條件,歲月累積在文,物表面上會(huì)呈現(xiàn)獨(dú)特痕跡,
最直接先以目視辦認(rèn)文,物的型式及色澤來獲取資訊,如不不足則利用光學(xué)顯微鏡觀察,
至于成份組成的判定,仍需準(zhǔn)確度高之科學(xué)檢測(cè)分析方法及儀器來提供,
此微量分析工作,通常需考量文,物有采樣不易、樣品量少等要求,致發(fā)展所謂之“非破壞檢測(cè)分析”方法
(1)光學(xué)顯微鏡(Optical Microscopy , OM):比較樣品的微觀顏色與形貌,作為材質(zhì)判定的參考。
(2)X 射線繞射儀(XRD):檢測(cè)樣品的晶體結(jié)構(gòu),據(jù)以判定其品種
(3)螢光 X 射線能譜儀(XRF):可以不必采樣,其能譜顯示樣品的元素成分。
(4)掃描電子顯微鏡/X 射線能譜儀(SEM/EDS):檢測(cè)樣品的微觀形貌,
(5)透射電子顯微鏡/X 射線能譜儀(TEM/EDS):檢測(cè)樣品的微觀結(jié)構(gòu),