上海光學(xué)儀器官網(wǎng)
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- 數(shù)顯測量顯微鏡 15JE
- 介紹: 1.直角坐標(biāo)中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度，通孔外圓直徑等等。2.轉(zhuǎn)動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規(guī)，鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件進(jìn)行角度測量。3.用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業(yè)的礦石標(biāo)本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。
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光學(xué)系統(tǒng) |
有限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng) | ||
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觀察方法 |
目鏡筒 |
單目鏡筒 | |
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光學(xué)方式 |
自然光、下照明 | ||
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目鏡參數(shù) |
倍率 |
10x（標(biāo)） | |
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焦距（mm） |
5 | ||
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物鏡參數(shù) |
倍率 |
2.5x |
10x |
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視場直徑（mm） |
5.6 |
1.4 | |
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工作距離（mm） |
58.84 |
7.81 | |
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測量范圍 |
X—軸移動測量范圍:50mm Y—軸移動測量范圍:13mm | ||
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分度值 |
測微器分度值:0.01mm 測量臺刻度盤分度范圍:0˚-360˚ 測量臺刻度盤之分度值:1˚ 測量臺刻度游標(biāo)讀數(shù)分度值:6′ | ||
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工作臺直徑 |
120mm | ||
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儀器測量準(zhǔn)確度 |
儀器示值誤差:±（5+L/15）μm 儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差 注：測量地點溫度變化:(20˚±3˚)C ；L—被測件長度（mm) | ||
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外型尺寸 |
高325*長262*寬220mm | ||
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重量 |
約10.6K | ||
二、成套性
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1 |
顯微鏡主體：1臺 |
4 |
保修卡 |
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2 |
物鏡：2.5X、10X |
5 |
合格證 |
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3 |
產(chǎn)品說明書 | ||
三、選購件
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1 |
40倍平場物鏡、外置透射光源 |
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