我們在使用掃描電子顯微鏡時(shí)所使用的電子槍則
是根據(jù)發(fā)射出折電子束經(jīng)過三個(gè)電子磁場上的透
鏡進(jìn)行聚集聚焦后形成的一個(gè)電子束。
而把這種電子束在透鏡的上端進(jìn)行的掃描線圈的
電子束則是通過物體樣品標(biāo)本的表面進(jìn)行作光棚
狀形貌的掃描的。
因此對于物體樣品標(biāo)本城作電子束作用下的情況
,則需要根據(jù)所激發(fā)出的各種各樣的信號進(jìn)行決
定的。
因此我們在使用掃描電子顯微鏡時(shí)所他用電子束
中的電子槍與透鏡則是通過激發(fā)區(qū)域中的成分或
是晶體結(jié)構(gòu)組織的取向進(jìn)行的。