在這里我們所說的掃描電子顯微鏡特點(diǎn)則可以從四個(gè)方
面進(jìn)行說明,則第一就是可以觀察直徑在零到三十毫米
的大塊試樣品,這樣在半導(dǎo)體工業(yè)可以觀察更大的直徑。
而同時(shí)對(duì)于制作樣品標(biāo)本的方法同樣的簡單的,第二掃
的,因此它主要適用于粗糙表面與斷口的分析觀察。
同時(shí)掃描電子顯微鏡所觀察的圖像具有立體感覺,真實(shí)
的感覺,同樣還有就是具有容易識(shí)別與解釋的功能。
因此在放大倍數(shù)變化范圍非常大的情況下一般對(duì)于多相
或是多組成的非均勻遙材料便于低倍下的普查和高倍下
的顯微觀察分析,同時(shí)還具有相當(dāng)高的分辨率。