測量值隨顆粒堆積體的孔隙度分析圖像顯微鏡
信息分類：生命科學(xué)資訊 作者:YIYI發(fā)布
流體透過法原則上可以應(yīng)用于任何粒度的顆粒表面積測量
(或平均粒度測量)，但是當(dāng)粒度大干50微米時，通常用篩分析
更方便和快速些。對于粘滯流范圍，透過法測量的顆粒直徑下限
為5微米，因?yàn)闇y量所用的流體不是液體就是氣體，在液體情
況，小于5微米顆粒的堆積體，當(dāng)液體透過時顆粒傾向于團(tuán)聚，
這使顆粒堆積體的孔結(jié)構(gòu)不均勻；而在氣體情況，
，這時有些孔空間的尺寸達(dá)到與氣體分子的
平均自由程可比較的數(shù)量級，發(fā)生氣體分子在孔壁上的“滑動”
使得科澤奈一卡曼公式需要修正，補(bǔ)充“滑動”項(xiàng)，否則得出的
滲透率結(jié)果偏低。經(jīng)此修正后，氣體透過法的測量范圍可延伸到
幾十個埃的數(shù)量級。
盡管透過法的測量值隨顆粒堆積體的孔隙度而波動，并和選
用的孔模型有關(guān)。但是透過法的測量儀器比較簡單，成本低廉，
并且操作容易和便于攜帶。因此，關(guān)于透過法的研究，目前仍很
受重視。
本文由出自上海光學(xué)儀器廠，轉(zhuǎn)載請注明
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