金屬樣品晶粒截面分析用金相顯微鏡生產(chǎn)廠商
信息分類：生命科學資訊 作者:YIYI發(fā)布
金屬樣品晶粒截面分析用金相顯微鏡生產(chǎn)廠商
當存在伸展缺陷(即線或面缺陷)時，整體擴散的速度是通過通常意義的體擴散和缺陷
擴欣的加權貢獻之和。這兩種貢獻的相對大小由三個因素決定:(1)通常意義上的體擴散和
缺陷擴散系數(shù);(2)與仲展缺陷相關的材料分數(shù);(3)溫度。
實驗發(fā)現(xiàn)，在晶粒界擴散的激活能大體是在通常意義的體擴散的一半。這樣，在同一溫
度下沿晶粒界的擴散速度一般比通常意義的體擴散的高。但是經(jīng)由睡種擴散機制輸運的總物
質(zhì)量不僅由擴散速度而同時由每一過程所涉及的材料體積分數(shù)所確定。在大多數(shù)關心的溫度
下.通常意義的體擴散材料塊體的體積是支配因素，大多數(shù)輸運的物質(zhì)發(fā)生在體擴散中。但
是，當溫度降低時面缺陷的相對貢獻急劇增加。
本文由出自上海光學儀器廠，轉載請注明
本文網(wǎng)址： http://m.xinmaotiandiyuan.com/html/3834.html 顯微鏡百科
合作站點：( http://www.sgaaa.com/丨北京上光儀器有限公司)
合作站點：( http://www.sgaaa.com/丨北京上光儀器有限公司)