在顯微鏡下觀察組織切片時,可以看到我們感興趣的某種特征物,
即具有一定形狀和分界限的某種組織成分的截面痕跡。這些截面形狀
不一,大小不等,通常可用幾何學和光密度兩大類參數(shù)對它們進行定
量描述。
幾何學參數(shù)主要指截面面積、周長、徑長、方位和計數(shù),其中計
數(shù)又分點計數(shù)和特征物計數(shù)兩大類。
點計數(shù)包括測試點計數(shù)、交點計數(shù)、橫截點計數(shù)、切線計數(shù);特
征物計數(shù)包括截面計數(shù)和相關(guān)點計數(shù);
徑長包括截距(弦)長度、卡規(guī)直徑和平均卡規(guī)直徑等。其二維
形態(tài)計量學參數(shù)可通過點、線和面3 種探針,特別是通過0 維的“點”
計數(shù)獲得。