顯微鏡分析儀分析試樣原材料結(jié)構(gòu)特點,試驗儀器
信息分類：生命科學資訊 作者:YIYI發(fā)布
顯微鏡分析儀分析試樣原材料結(jié)構(gòu)特點,試驗儀器
以X 光繞射分析儀分析各試料組織結(jié)構(gòu)相，
測量面為軋延平面。并且探討經(jīng)過退火熱處理后，
晶粒方位之轉(zhuǎn)變。
究針對各試料進行拉伸試驗(應變速率為1mm /min)及Micro Vickers 微硬度測試，
并以奈米壓痕試驗機(應變速率5nm/s)，對各試料基地以及第二相
進行測試，以了解其基本機械性質(zhì)。
將板型試片一端固定于試片夾持裝置，另一端裝配振幅感應器。
試片尺寸為80mm x 15mm x 3mm，試片兩側(cè)于近振動臺夾持
端 25mm 距離處，開 V 型凹槽(notch)，
使振動頻率由低頻掃描至高頻(10~300Hz)，對應末端的
位移量最大者即為試片的共振頻率
本文由出自上海光學儀器廠，轉(zhuǎn)載請注明
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